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靜態(tài)圖像法粒度粒形分析儀是利用圖像處理技術(shù)對(duì)顆粒物料進(jìn)行粒度分析的方法。而粒度分析是指對(duì)顆粒物料中的各種顆粒粒度進(jìn)行測(cè)量和分析的過程。靜態(tài)圖像法粒度分析儀是一種自動(dòng)對(duì)顆粒物料進(jìn)行粒度分析的設(shè)備，它能夠根據(jù)顆粒的形狀、大小等特征獲取顆粒物料的...

隨著納米科技的迅猛發(fā)展，納米顆粒的制備、表征及應(yīng)用變得越來越重要。其中，納米顆粒的表面電荷特性對(duì)其在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)和環(huán)境科學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用至關(guān)重要。高濃度Zeta電位儀作為一種基于電動(dòng)力學(xué)原理的工具，對(duì)納米顆粒的表面電荷進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，...

顆粒粒度形貌顏色分析儀是種常用的測(cè)試儀器，用于對(duì)顆粒物體的粒度、形貌和顏色進(jìn)行分析。它通過采集樣品圖像，并利用圖像處理算法和顏色測(cè)量技術(shù)來實(shí)現(xiàn)對(duì)顆粒物體的粒度、形貌和顏色的準(zhǔn)確測(cè)量與分析。顆粒粒度形貌顏色分析儀的常見問題及解決方法：?jiǎn)栴}1：...

納米粒度和zeta電位儀是種常用的粒子表征儀器，用于研究納米顆粒的粒度和表面電荷特性。用于測(cè)量納米顆粒尺寸分布的儀器。其原理主要基于動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，通過照射激光光束到樣品中的顆粒上，利用散射光的分布特征來測(cè)量顆粒的尺寸分布。當(dāng)激光照射到顆粒...

顆粒球形度分析儀是用于測(cè)量顆粒物料的球形度的儀器。它以光學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過將樣品中的顆粒投射在一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)中進(jìn)行圖像采集，并根據(jù)采集到的圖像數(shù)據(jù)來計(jì)算顆粒的球形度。優(yōu)點(diǎn)在于其操作簡(jiǎn)便快捷，能夠?qū)Υ罅繕悠愤M(jìn)行高效率的測(cè)量，而且測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠...

Zeta電位是指粒子表面的電勢(shì)差，它可以反映粒子表面的電荷分布情況。電聲法Zeta電位儀通過聲子光散射技術(shù)，測(cè)量粒子在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度，進(jìn)而計(jì)算得到粒子的電動(dòng)勢(shì)差。會(huì)向液體中添加一定濃度的電解質(zhì)，使溶液中存在一定濃度的離子。然后，通過施加電...

粒度粒形分析儀是一種測(cè)量顆粒大小、形狀和分布的儀器，它通過光學(xué)、聲學(xué)或其他方法來對(duì)顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和分類。然而，在使用這種儀器時(shí)，還會(huì)出現(xiàn)各種各樣的問題。廣泛應(yīng)用于制藥、化工、食品、電子等行業(yè)的物料分析工具。它可以用于對(duì)顆粒形狀和粒徑的檢測(cè)，從...

光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)會(huì)測(cè)量在一定角度內(nèi)液體散射的光線數(shù)量和光散射強(qiáng)度，并記錄下每個(gè)微粒的光信號(hào)。通過分析收集到的數(shù)據(jù)，原位在線納米粒度儀可以計(jì)算出微粒的直徑大小、體積分布以及聚類狀態(tài)等粒度參數(shù)。還可通過控制注射速率、流體速度等參數(shù)，實(shí)現(xiàn)測(cè)量多組不同...

原位在線納米粒度儀是一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和測(cè)量液體體系中粒度變化的儀器設(shè)備，可廣泛應(yīng)用于化學(xué)、材料、生物、醫(yī)藥等領(lǐng)域。其主要工作原理是基于光學(xué)散射原理，利用激光束與微粒之間的相互作用關(guān)系來測(cè)量微粒的大小和分布情況。主要組成部分包括激光光源、光學(xué)...

不溶性微粒檢查法系在可見異物檢查符合規(guī)定后.用以檢查溶液型靜脈用注射劑中不溶性微粒的大小及數(shù)量。測(cè)定方法一般先采用光阻法；當(dāng)光阻法測(cè)定結(jié)果不符合規(guī)定或供試品不適于用光阻法測(cè)定時(shí)，應(yīng)采用顯微計(jì)數(shù)法進(jìn)行測(cè)定一應(yīng)符合規(guī)定，并以顯微計(jì)數(shù)法的測(cè)定結(jié)果...